隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀八十年代的出現,大氣環境中的納米尺度成像成為了可能。顯微拉曼成像光譜技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續的發展,然而如何實現納米尺度的的化學結構表征仍是一項挑戰。
顯微拉曼成像光譜為分子結構和化學組分分析提供了有效的解決方案,廣泛應用于材料科學和生命科學領域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射限。
因此,顯微拉曼成像光譜將這兩種技術結合是富吸引力和挑戰性的,我們進入納米光學的世界。在該領域,HORIBAScientific通過幾十年的經驗積累和努力,開發了一套HORIBANANORaman的整體解決方案,使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。

一、重要特征
1、多種樣品分析平臺
高分辨樣品掃描器,掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺限
2、簡便易操作
全自動操作,大縮短了測試時間
3、真共聚焦
高空間分辨率,自動成像平臺,多種顯微鏡可視觀察系統
4、高靈敏度
多只有三面反射鏡,靈敏度和光通量得到大提高,提高設備穩定性
5、高光譜分辨率
多光柵自動切換,寬的光譜范圍用于拉曼和PL測試
6、納米尺度空間分辨率
通過針尖增加拉曼光譜(TERS)成像,實現10nm的空間分辨率
7、多種測試模式/多種環境
多種SPM模式,包括AFM、導電AFM、開爾文、STM模式,可以子在液體和電化學環境下測試,通過TERS和TEPL技術,可同時獲得化學信息成像通過一臺電腦即可控制及使所有功能。另外,SPM和光譜儀也可以單獨控制使用
8、穩定性
采用新一代50KHz高頻調制SPM掃描器,遠離生活噪聲,具有高信噪比和穩定性
9、靈活性
具有頂部、底部、側向等多個方向拉曼探測能力,滿足各方面應用研究需求
二、強有力的的物理、化學結構表征工具
1、HORIBANANORaman顯微共焦拉曼光譜功能強大
·可同時進行SPM和拉曼光譜測試
·頂部和側向均可使用高數值孔徑×100物鏡,使得同區域測量能獲得更高的空間分辨率,針尖增強拉曼(TERS)具有高的信號收集效率
·通過SWIFTXS和EMCCD探測器可以實現高通量信號收集能力和快速掃描速度
·寬光譜范圍:從深紫外到近紅外
·可選配HORIBA拉曼光譜儀系統以獲得高光譜性能
2、操作簡單、快速!
·一鍵完成“懸臂梁-參考激光”對準及調諧頻率優化,無需手動調整
·換針尖時無需移動樣品,換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置
·通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與TERS針尖耦合
·通過一臺電腦即可*控制
三、操作簡單的TERS系統
1、穩定的AFM-TERS針尖
拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統,同OmniTM型號的TERS探針,可同時獲取樣品表面形貌和TERS光譜。
HORIBANanoRaman系統結合OmniTM的TERS針尖提供了理想的增強方案。
·適用不同方向的TERS耦合:頂部、側向和底部
·多層結構:針尖優化小化的減少硅襯底中光譜干擾
·惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命
·具有特殊保護層的Ag針尖能夠防止大氣環境下氧化
2、如何實現TERS
在TERS系統,拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2,選擇合適的激發波長,在針尖十幾納米附近產生局域等離子體共振效應3,拉曼信號強度和局域電場成正比,增強的熱點和樣品接近就會大地增強樣品的拉曼信號,達到105或者1064。
3、什么是同區域成像
拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統,同區域成像測試是在同一個區域內同時或者連續獲得AFM圖和拉曼成像圖。
AFM和其他的SPM技術如STM,音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌,力學性能,熱學性能,電學和磁學性能以及分子分辨率測試,另一方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學信息,受到空間分辨率的限制。
4、可驗證的TERS樣品
HORIBA提供一系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯,適當的分散可以做TERS成像。樣品用來展示AFM的分子分辨率,通過TERS成像展示20nm的空間分辨率。
四、集成化軟件——一個軟件控制HORIBANANORaman的數據采集
·集成化軟件:一個軟件即可控制HORIBANANORaman整個平臺(包括單獨AFM、拉曼、光致發光、同區域成像測試和TERS)
·強大的Labspec6軟件:集成多變量分析模塊,一鍵完成PCA,MCR,HCA,DCA分析
·Spec-top成像模式:Spec-top為*的輕敲模式,根據設置的步進輕敲樣品,這樣既保留了針尖的尖銳度,也提高了TERS信號的放大倍數。
·Dual-spec模式:Dual-spec可以同時獲得近場增強信號和遠場拉曼信號,基于差譜的方法扣除遠場拉曼信號,獲得高空間分辨率的TERS成像圖
多變量分析:全矩形掃描區域會消耗大量時間,可以在AFM圖上選擇不規則區域來做成像
·曲線圖:力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布,力學常數